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“2009?MCU技术创新与应用大会”近日完美谢幕。深圳金凯博电子公司技术代表在会上作了《全面加速您的嵌入式设计》的主题演讲，并介绍了美国泰克公司在嵌入式系统当中的测试方案、美国Fluke的红外测温方案，通过互动交流等形式赢得了与会专家、技术人员的称誉。WWW_PLCJ－S_COM－PLC－技.术_网(可－编程控－制器技术－门户)
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金凯博技术代表表示，当今嵌入式系统无处不在，我们身边的许多系统都是嵌入式系统，比如A/D、闪存和CPU，当然避免不了最基础的电源，最后是一些并行和串行的控制总线等。嵌入式系统实际上是采用专用微处理器或微型控制器的紧凑型专用计算设备，一般执行非常具体的预先规定的任务，旨在满足特定的功能，或者集成在大得多、复杂得多的设备内部，如汽车系统、航空电子、网络设备、工业控制、医疗器械、消费电子和通信网络。WWW※PLCJS_COM－PL＃C－技.术_网(可编※程控※制器技术门户)
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据介绍，在这个过程中，工程师面临的关键测试挑战之一是能够采集和监测不同的信号和协议。设计工程师必需能够生成各种信号，测试被测设备(DUT)的极限，确定设计在实际环境中的行为结果。他们需要测试解决方案能够捕获及可视化复现这些信号，以检验信号完整性。他们需要在一条总线上多个数字信号之间的精密定时信息，调试建立时间和保持时间违规。在许多情况下，在硬件工程师和软件工程师合作调试某个问题的根本原因时，他们要求能够查看总线上的信息，不仅包括电气表示，还要包括较高的提取等级，如微处理器的汇编码代码或串行总线协议的解码图。许多设计由大量的硬件组件执行特定任务，这些任务可能位于电路板的不同部分。为保证组件之间正确交互，嵌入式工程师需有对DUT(被测设备)系统级的视角。挑战是保证组件操作同步，这意味着测试设备必需能够提供与定时性能有关的准确信息，同时创建更高级的提取和分析功能。W1WW_P4LCJS_COM－PLC－技.术_网
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据了解，作为高交会电子技术的主题会议，“2009?MCU技术创新与应用大会”吸引了超过500名的业界精英齐聚一堂，如金凯博、iSuppli、 恩智浦、ARM、意法半导体、中国软件行业协会、康佳、盛扬，以及海尔集成电路的专家，一起参与交流和探讨，并通过软件、测试和案例分享等形式，分析了MCU技术与市场的格局及发展趋势。WWW_PLCJS※COM－PLC－技×术_网(可编程控※制器技术门户)