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安捷伦15-bit任意波发生器
日期:2008-4-9 22:11:47 来源:中国传动网  
点击: 作者:未知
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    安捷伦科技有限公司现已提供了基于PXI和LXI的15-bit任意波发生器(AWGs)用于创造同步发生的带宽和高解决方案信号,用于雷达、人造卫星、电信或军事通信设备的电子测试。
    利用15-bit垂直解析度,N6030A (PXI)和N8241A (LXI)产品在商业AWGs中产生了许多切实可行的多频波。无失真动态范围小于65 dBc,可用于每个通道,直流为500 MHz。噪音基底在整个通道的带宽中小于150 dBc/Hz。
    当与安捷伦PSG矢量信号发生器多频I/O转炉相结合时,安捷伦的AWGs在频率为44 GHz情况下,可实现1 GHz模拟带宽,用于IF以及RF子系统测试的可靠信号模拟。
    4插槽PXI N6030A和LXI N8241A有两个通道,分辨率可达1.25 GS/s信号宽带为500 MHz。标准波每通道长度为8 MS,还可以扩展至16MS。N8241A在每通道的取样速率能达到625 MS/s。双重输出通道在测试路径中不用应用不平衡变压器或混合适配器就能平衡地驱动两端。
    AWGs中的高级序列和扩展波记忆能够提供长时间模拟用于扩展重放时间。多重编程界面,如来自MATLAB(r)的完整仪器控制,使其简单整合到现存测试环境中,并简化波形发展任务。
    高清晰度图片可登录链接到http://www.agilent.com/find/AWG_PXI_LXI_imageswww.agilent.com/find/AWG_PXI_LXI_images 下载。
    
 original text  
 Agilent Technologies‘ 15-bit Arbitrary Waveform Generators Create Complex Wideband Waveforms for Optimum Test Signal Quality 
    Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) now offers PXI-based and LXI-based 15-bit arbitrary waveform generators (AWGs) that can create simultaneous wide-bandwidth and high-resolution signals for electronic testing of radar, satellite, telecom or military communication equipment. 
    Using 15-bit vertical resolution, the N6030A (PXI) and N8241A (LXI) products generate the most realistic wideband waveforms available in commercial AWGs. Spurious-free dynamic range is less than -65 dBc for each channel, DC to 500 MHz. Noise floor is less than -150 dBc/Hz across the full channel bandwidth.
    When combined with the Agilent PSG vector signal generator wideband I/Q upconverter, Agilent‘s AWGs can achieve modulation bandwidths of 1 GHz at high frequency up to 44 GHz for authentic signal simulations for IF and RF subsystem testing as well.
    The 4-slot PXI N6030A and the LXI N8241A feature two channels, each offering 1.25 GS/s with up to 500 MHz of signal bandwidth, and a standard waveform length of 8 MS per channel that is expandable to 16 MS. The N8241A is also available with a 625 MS/s sampling rate at up to 250 MHz per channel. Dual output channels drive both single-ended and balanced designs without the need for balun or hybrid adapters in the test path.

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